本节书摘来自华章社区《电子元器件的可靠性》一书中的目录，作者王守国，更多章节内容可以访问云栖社区“华章社区”公众号查看

目 录

前言
第1章　概述
　1.1　可靠性发展阶段
　1.2　质量观与可靠性概念
　1.3　可靠性工作概述
　习题
第2章　电子元器件的可靠性数学
　2.1　可靠性数学的重要性
　2.2　可靠性数据的收集
　2.3　可靠性基本术语和主要特征量
　2.4　电子元器件的失效规律
　2.5　威布尔分布及其概率纸的结构和用法
　2.6　指数分布——偶然失效期的失效分布
　2.7　正态分布或高斯分布
　2.8　计算机威布尔概率纸的构造及软件分析法
　习题
第3章　可靠性试验
　3.1　可靠性试验的意义
　3.2　抽样理论及抽样方法
　3.3　可靠性筛选试验
　3.4　失效分布类型的检验
　3.5　指数分布情况的寿命试验
　3.6　恒定应力加速寿命试验
　3.7　电子元器件失效率鉴定试验
　习题