且构网

分享程序员开发的那些事...
且构网 - 分享程序员编程开发的那些事

《电子元器件的可靠性》——习题

更新时间:2022-10-04 19:26:20

本节书摘来自华章社区《电子元器件的可靠性》一书中的习题,作者王守国,更多章节内容可以访问云栖社区“华章社区”公众号查看

习题
1.对飞机上电子设备用的某种电子元器件进行现场无替换试验,其元件数n=39,记录下9次失效时间分别为:423,1090,2386,3029,3652,3925,8967,10957,11358小时,求该电子元器件在飞机上使用的平均寿命、失效率及其在置信度90%下的平均寿命区间估计值。
2.设某种晶体管共232个,在飞机环境下工作61小时,3个失效,求该晶体管在试验条件下平均寿命的点估计值。

  1. 3DK 7晶体管88个,在200℃进行高温储存2000小时,试验发现失效产品数与失效时间如下表所示:
    失效时间(小时)32761442364529731960失效数(只)221218914

求其点估计和区间估计的平均寿命值(区间估计采用90%置信度)。